即将来临的事件

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太平洋时间2021年8月10日上午10:00(美国和加拿大)

选择哪种光学计量技术?

9月8日,2021年09:00 AM Pacific Time(美国和加拿大)

纳米划痕测试和3D轮廓测定的理论介绍

9月14日,2021年上午10:00(美国和加拿大)

使用Tencor Stylus分析器测量软材料

太平洋时间2021年10月19日上午10:00(美国和加拿大)

通过玻璃测量表面形貌

10月20日,2021 09:00太平洋时间(美国和加拿大)

片材电阻的光斑尺寸和横向分辨率测量

太平洋时间2021年11月9日上午10:00(美国和加拿大)

多个接口的Profilm3d

11月18日,2021年08:00上午的时间(美国和加拿大)

用坎德拉降低通信和传感应用的GaAs, InP和其他复合半晶圆的缺陷®

12月8日,2021年09:00太平洋时间(美国和加拿大)

具有测试后3D轮廓测定的微电子显示器涂层纳米划痕

缺陷检测系统

缺陷检查员

坎德拉®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在通信和网络、led、电源设备、传感、太阳能、光伏和数据存储等应用领域实现显著的产量和工艺改进。

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纳米丁德纳纳米机械测试人员

Nanoindenters

KLA仪器纳米丁内特产品组合提供精确,可靠和可重复的测试,以在各种测试条件下表征材料的静态和动态机械性能。

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光学轮廓计

光学分析器

profilm3d.®和Zeta.™️️光学轮廓仪提供快速,非接触的解决方案,3D台阶高度,粗糙度,和其他表面形貌测量,利用干涉仪和ZDot测量技术。

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薄层电阻映射器

电影化学®薄层电阻映射器械已基于超过45年的电阻测量创新和技术专业知识开发。

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针表面光度仪

笔分析器

α-步骤®,Tencor.p系列,合®手写轮廓仪可以实现高精度,2D和3D表面计量。触控笔轮廓仪测量台阶高度,粗糙度,弓和应力具有行业领先的稳定性和可靠性,为您的研发和生产计量要求。

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薄膜反射计

薄膜反射仪

电影化学薄膜反射仪在几秒钟内提供透明薄膜的厚度和折射率测量,具有行业领先的精度。

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服务

KLA Instruments Service Group提供全球网络快速,响应性和灵活的支持选项网络,以满足您的独特需求并最大限度地提高您的正常运行时间。

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我们的创新历史和深厚的专业知识建立了一个广泛的测量和检测解决方案组合,以满足每一个需求和环境。看看这一切是如何从阿尔法步骤开始的®通过我们最新的产品创新,1977年的产品线。

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