TencoR™手写笔轮廓计

TencoR™手写笔轮廓计

KLA Instruments™Alpha-Step®,Tencor p-和hrp®-Series触控笔轮廓计量提供高精度,2D和3D表面计量,测量步进高度,表面粗糙度,弓形和应力,为您的研发和生产要求提供了行业领先的稳定性和可靠性。

即将举行的活动

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8月10日,2021年上午10:00太平洋时间(美国和加拿大)

哪种光学计量技术选择?

9月8日,2021年09:00 AM Pacific Time(美国和加拿大)

纳米划痕测试和3D轮廓测定的理论介绍

9月14日,2021年上午10:00(美国和加拿大)

使用Tencor Stylus分析器测量软材料

10月19日,2021年上午10:00(美国和加拿大)

通过表面形貌的玻璃测量

10月20日,2021 09:00太平洋时间(美国和加拿大)

薄层电阻测量的点尺寸和横向分辨率

11月9日,2021年10:00太平洋时间(美国和加拿大)

多个接口的Profilm3d

11月18日,2021年08:00上午的时间(美国和加拿大)

使用Candela的通信和传感应用的GaAs,INP和其他复合半晶片上的缺陷减少®

12月8日,2021年09:00太平洋时间(美国和加拿大)

具有测试后3D轮廓测定的微电子显示器涂层纳米划痕

阿尔法步骤®D-600.

Alpha-Step D-600触控笔分析器将电动X-Y级添加到α步技术,从而实现了2D和3D步高度和表面粗糙度测量的自动映射。

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Tencor™P-7

Tencor P-7利用行业领先地形传感器和Tencor P-17的超平面扫描技术,在一个平台中为Benchtop Stylus Profiler提供最优惠的价格。

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Tencor™P-17&Tencor™P-17的

业界领先的Tencor P-17是最新一代Benchtop Stylus Profiler,该探测器构建了40多年的表面计量体验,为研发和生产环境提供了精确的2D和3D步高度和表面粗糙度测量。

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阿尔法步骤®D-500.

Alpha-Step D-500是一种经济实惠的易于使用的台式触控笔手写件,具有用于实验室和生产环境的2D步高度和表面粗糙度测量的手动X-Y级。

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Tencor™P-170

Tencor P-170 Profileometer能够为复合半导体行业提供全自动测量,支持包括硅,蓝宝石,碳化硅,砷化镓,玻璃等的盒式磁带晶片处理。

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HRP.®-260

HRP-260触控管型器仪基于高吞吐量和生产环境所需的可靠性,将高分辨率,长扫描能力和盒式磁带晶圆处理相结合。

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创新时间表

自从1977年推出alpha-step100触控笔推动力表以来,我们的技术专家继续带来先进的地形传感器,超平面扫描阶段和全面的市场自动测量能力等关键创新。我们的工具继续发展,为您的表面计量要求提供可重复和准确的测量。了解有关我们手写笔探查员的丰富创新历史。

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对于行业专家,学者和其他创新者,KLA仪器提供可信赖的测量,实现了世界的突破性技术。

缺陷检查员

坎德拉®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在跨越通信和网络,LED,电源设备,传感,太阳能,光伏和数据存储的应用中实现显着的产量和过程改进。

纳宁德斯

KLA仪器纳米丁内特产品组合提供精确,可靠和可重复的测试,以在各种测试条件下表征材料的静态和动态机械性能。

光学分析器

profilm3d.®和Zeta.™️️光学轮廓计提供3D步高度,粗糙度和其他表面形貌测量的快速,非接触式解决方案,利用干涉仪和ZDOT测量技术。

薄层电阻映射器

电影化学®薄层电阻映射器械已基于超过45年的电阻测量创新和技术专业知识开发。

薄膜反射仪

电影化学薄膜反射仪在几秒钟内提供透明薄膜的厚度和折射率测量,具有行业领先的精度。

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