薄膜测量系统

薄膜测量系统

电影化学®价格实惠的反射计提供高精度薄膜厚度测量在几秒钟内。这些易于使用的工具,结合智能软件和广泛的附件和配置,提供最大的多功能性的薄膜厚度测量范围从1nm到3mm。

即将来临的事件

查看全部

8月10日,2021年上午10:00太平洋时间(美国和加拿大)

选择哪种光学计量技术?

9月8日,2021年09:00 AM Pacific Time(美国和加拿大)

纳米划痕测试和3D轮廓测定的理论介绍

9月14日,2021年上午10:00(美国和加拿大)

使用Tencor Stylus分析器测量软材料

10月19日,2021年上午10:00(美国和加拿大)

通过表面形貌的玻璃测量

10月20日,2021 09:00太平洋时间(美国和加拿大)

片材电阻的光斑尺寸和横向分辨率测量

11月9日,2021年10:00太平洋时间(美国和加拿大)

多个接口的Profilm3d

11月18日,2021年08:00上午的时间(美国和加拿大)

使用Candela的通信和传感应用的GaAs,INP和其他复合半晶片上的缺陷减少®

12月8日,2021年09:00太平洋时间(美国和加拿大)

具有测试后3D轮廓测定的微电子显示器涂层纳米划痕

Fimpetrics F10-AR

专为简单,负担得起的测量眼科增透涂层和硬质涂层厚度的测量。

了解更多

Fimpetrics F10弧

带有内部光纤的便携式反射计,可测量曲面,包括具有专利的长寿命、低功率光源的抗反射涂层。在几秒钟内获得颜色、反射率和薄膜厚度的测量,而价格只是其中的一小部分。

了解更多

Fimpetrics F10-HC

依靠世界各地的汽车硬涂层公司在平坦和弯曲表面上测量硬涂层。

了解更多

Fimpetrics F10-RT

执行反射率和透射率的同时测量;支持膜厚度和折射率的计算。

了解更多

电影化学F20

多功能,经济实惠的通用薄膜厚度和折射率测量系统。

了解更多

Filmetrics F3-sX

在厚度为3mm的半导体和介电层附近使用近红外线(NIR)光线。F3-SX使用近红外(NIR)光来测量层厚度。

了解更多

Fimpetrics F3-CS

小型,便携式工具专为测量小于PITNES样品(例如聚对二甲苯涂覆的试样)的涂层厚度。

了解更多

电影化学F30

提供用于分析膜均匀性和半导体和介电层的沉积速率,膜厚度和光学常数(n和k)的原位,实时测量。

了解更多

Filmetrics F32

在实时测量沉积速率,膜厚度,光学常数和均匀性,能够同时测量最多4个斑点。

了解更多

Fimpetrics F40

包括一个集成的实时视频摄像机,加上显微镜光学,产生的薄膜厚度测量光斑大小小到1µm,用于测量图案,弯曲,和不均匀的样品。

了解更多

Fimpetrics F50

使用自动R-THETA阶段进行快速,自动胶片厚度映射晶片尺寸,每位网站快速达到300毫米。

了解更多

Fimpetrics F54

将F40的小型测量点尺寸与集成相机相结合,加上直径高达300mm的晶片的自动映射,使用R-Theta阶段。使用F54高级光谱反射系统快速且轻松地映射到直径为450mm的样品的薄膜厚度。

了解更多

FimpRetics F54-XY-200

F54-XY-200是一种用于测量膜厚度,折射率,反射率,吸收和表面粗糙度的自动化台式映射系统。五种配置覆盖薄膜厚度高达120μm,点尺寸为2μm至100μm。

了解更多

Fimpetrics F60-T

将薄膜厚度和指数测量带入带自动凹口的生产环境,自动车载基板和SECS / GEM工厂自动化软件。

了解更多

寻找用于半导体芯片制造的椭圆表薄膜厚度工具?

查看更多

创新时间表

从1995年开始的第一薄膜测量仪器的启动,Fimpetrics技术专家继续产生自动障碍等关键创新,使用膜厚度图像的模式识别,内置自动波长校准。超过二十年,Fimentrics提供的创新技术和无与伦比的应用支持为客户提供了可重复和可靠的薄膜计量测量。了解有关丰富的创新历史,并了解为什么Fimperetics反射计是薄膜测量的标准。

了解更多

收到最新的KLA仪器新闻,论文,活动等等

仪器形式
数据传输*

遵循心理契约工具

遵循KLA仪器与我们的专家聘用并了解我们的工具应用程序。

了解我们的产品如何帮助您。金博宝188亚洲体育app

探索更多的解决方案

KLA仪器标志

仪器

对于行业专家,学者和其他创新者,KLA仪器提供可信赖的测量,实现了世界的突破性技术。

缺陷检查员

坎德拉®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在通信和网络、led、电源设备、传感、太阳能、光伏和数据存储等应用领域实现显著的产量和工艺改进。

纳宁德斯

KLA仪器纳米丁内特产品组合提供精确,可靠和可重复的测试,以在各种测试条件下表征材料的静态和动态机械性能。

光学分析器

profilm3d.®和Zeta.™️️光学轮廓仪提供快速,非接触的解决方案,3D台阶高度,粗糙度,和其他表面形貌测量,利用干涉仪和ZDot测量技术。

薄层电阻映射器

电影化学®薄层电阻映射器械已基于超过45年的电阻测量创新和技术专业知识开发。

笔分析器

α-步骤®,Tencor.p系列,合®触控笔功能使高精度,2D和3D表面计量能够实现。手写笔分析器测量行业领先的稳定性和可靠性的步进高度,粗糙度,弓和压力,以及您的研发和生产计量要求。

你确定吗?

您已选择查看由Google翻译翻译的本网站。
KLA中国的内容具有改进的翻译内容。

你想参观克拉中国吗?


您已选择查看由谷歌翻译翻译的此网站。
心理契约中国的内容与英文网站相同并改进了翻译。

你想访问kla中国吗?

如果您是当前的KLA员工,请通过KLA Intranet访问我的访问权限。

出口