薄膜测量系统
薄膜测量系统
电影化学®价格实惠的反射计提供高精度薄膜厚度测量在几秒钟内。这些易于使用的工具,结合智能软件和广泛的附件和配置,提供最大的多功能性的薄膜厚度测量范围从1nm到3mm。
即将来临的事件
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将F40的小型测量点尺寸与集成相机相结合,加上直径高达300mm的晶片的自动映射,使用R-Theta阶段。使用F54高级光谱反射系统快速且轻松地映射到直径为450mm的样品的薄膜厚度。
FimpRetics F54-XY-200
F54-XY-200是一种用于测量膜厚度,折射率,反射率,吸收和表面粗糙度的自动化台式映射系统。五种配置覆盖薄膜厚度高达120μm,点尺寸为2μm至100μm。
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从1995年开始的第一薄膜测量仪器的启动,Fimpetrics技术专家继续产生自动障碍等关键创新™,使用膜厚度图像的模式识别,内置自动波长校准。超过二十年,Fimentrics提供的创新技术和无与伦比的应用支持为客户提供了可重复和可靠的薄膜计量测量。了解有关丰富的创新历史,并了解为什么Fimperetics反射计是薄膜测量的标准。
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