IC组件检验和计量

IC组件检验和计量

KLA的封装组件检查和计量系统表征了先进和传统包装类型的主要功能,具有不同的尺寸和互连风格。我们的系统为各种缺陷类型以及准确和可重复的3D计量测量提供了敏感性,其共同提供包装制造商在有效地分拣组件的同时提高其产量所需的数据,以便快速移除有缺陷的部件。通过提供能够处理各种包装类型的柔性系统,工程师可以进一步提高动态制造环境的总体运营效果。

国际安全和发展理事会T3 / T7

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国际安全和发展理事会T3 / T7

封装IC检验和计量系统

国际委员会T3/T7系列提供多种选项,用于带托盘(T3)或磁带(T7)输出的封装集成电路(IC)组件的全自动光学检测。ICOS T3/T7系列为小缺陷类型提供了更高的灵敏度,配合精确和可重复的3D计量测量,提供了影响最终包装质量的问题的增强检测。ICOS T3/T7系列采用了具有深度学习算法的人工智能(AI)系统,实现了最精确的组件分类流程,从而实现了缺陷类型的智能和敏捷分类。ICOS T3和T7检查器共用一个平台,可以重新配置从托盘输出到磁带输出,以在不断变化的环境中优化工具使用。

应用程序

组件传出质量控制(OQC)适用于所有包装类型(薄扁平封装(TQFP),四边形封装(QFP),BGA,芯片级封装(CSP),晶圆级封装(WLP),QFN,凹凸芯片架(BCC),土地网格阵列(LGA)等......)

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国际安全和发展理事会T890

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国际安全和发展理事会T890

封装IC检验和计量系统

国际委员会T890组件检查器提供高性能,全自动的封装集成电路(IC)组件的光检查。它利用高灵敏度与2D和3D测量值,以确定各种设备类型和尺寸的最终包装质量。ICOS T890提供四个独立检测站和组件分拣站的并行操作,实现高吞吐量,经济高效的组件检查。

应用程序

组件传出质量控制(OQC)适用于所有包装类型(薄扁平封装(TQFP),四边形封装(QFP),BGA,芯片级封装(CSP),晶圆级封装(WLP),QFN,凹凸芯片架(BCC),土地网格阵列(LGA)等......)

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国际安全和发展理事会MV996L.

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封装IC检验和计量系统

的MV996L组件检验员提供完全自动化的光学检测封装集成电路(IC)组件托盘输出。MV996L系统提供飞行(OTF)检测2D和3D测量灵敏度所需的最终包装质量问题的准确检测。多行拾取实现了批量生产所需的吞吐量,而一个简单的转换过程,在不同的包装之间进行更改,为一系列包装大小和类型的质量控制提供了有效的解决方案。

应用程序

组件传出质量控制(OQC)用于球栅阵列(BGA),四边形封装(QFP),芯片尺度封装(CSP),薄的小型轮廓包装(TSOP),四边形无铅包装(QFN)和定制包装

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国际安全和发展理事会MV925L

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国际安全和发展理事会MV925L

封装IC检验和计量系统

MV925L.组件检验员提供完全自动化的光学检测封装集成电路(IC)组件的双磁带或托盘输出。MV925L系统提供多排动态检测(OTF),用于托盘到托盘或单排拾取到胶带,可灵活设置,在不断变化的生产环境下降低拥有成本。具有2D和3D测量灵敏度,MV925L检验员能够准确检测最终包装质量问题。一个简单的转换过程为一系列包的大小和类型提供了有效的解决方案。

应用程序

组件传出质量控制(OQC)用于球栅阵列(BGA),四边形封装(QFP),芯片尺度封装(CSP),薄的小型轮廓包装(TSOP),四边形无铅包装(QFN)和定制包装

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国际安全和发展理事会MV998L.

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QA的包装IC检验和计量系统

mv998l.组件检查员提供了具有托盘输出的质量保证(QA)测试的封装集成电路(IC)组件的便携式光学检测。MV998L系统专注于提供移动解决方案,提供2D和3D测量灵敏度,以改善在更换的制造环境中的引线,球和垫上的质量问题的检测。零包转换是在标准包类型之间切换的,确保MV998L检查器在QA过程中保持灵活性并节省时间。

应用程序

质量保证(QA)球栅阵列(BGA),四方平面封装(QFP),薄型小轮廓封装(TSOP),四方平面无引线封装(QFN)和定制包装

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klarity.®

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自动缺陷和良率数据分析

klarity.®缺陷自动缺陷分析和数据管理系统通过实时偏移识别帮助Fabs实现更快的收益率学习循环。klarity.®针对Klarity缺陷的SSA (Spatial Signature Analysis)分析模块提供了对缺陷签名的自动检测和分类,这些缺陷签名表明了过程问题。klarity.®ACE XP高级收益率分析系统有助于FABS捕获,保留和跨越FAB的股票,以便在FAB上进行产量加速。klarity系统利用直观的决策流程分析,允许工程师轻松创建支持的自定义分析,这些分析支持许多分散,审查采样,缺陷源分析,SPC设置和管理以及偏移通知等应用。klarity缺陷,klarity ssa和klarity xp形成了一种Fab-宽的产量解决方案,可自动降低缺陷检查,分类和审查数据以与相关的根本原因和产量分析信息进行审查。熊分素数据有助于IC,包装,复合半和HDD制造商越早采取纠正措施,从而加速产量和更好的市场时间。

应用程序

缺陷数据分析,晶片配置,工艺和刀具偏移识别,空间特征分析,良率分析,良率预测

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